CeO2 Slurry
 Á¦Ç°ÀÇ °³¿ä
   È­ÇÐÀû ±â°èÀû Æòźȭ °øÁ¤(CMP)À¸·Î
   ¹ÝµµÃ¼ÀÇ ÃÖ±Ù Ãß¼¼ÀÎ 300mm wafer »ç¿ë ¹×
   ¹Ì¼¼ ¼±Æø , ´ÙÃþ ¹è¼±ÀÇ Á¦Á¶¸¦ À§ÇØ µîÀåÇÑ
   ¹ÝµµÃ¼ Á¦Á¶±â¼úÀÌ´Ù. ±âÁ¸¿¡ »ç¿ëµÈ LOCOS´Â
   bird¡¯s beakÀÇ Çö»óÀÌ ¹ß»ýÇÏ¿©, 0.25§­ ÀÌÇÏÀÇ
   Design¿¡ Á¦ÇÑÀÌ ¹Þ°í ÀÖ´Ù, ±× ´ÜÁ¡À» º¸¿ÏÇÑ
   °øÁ¤À¸·Î STI °øÁ¤ÀÌ »ç¿ëµÇ¾î Áö¸ç. ANPÀÇ
   CeO2 slurry ´Â high planarity , engineered
   selectivity(high or low) , Lower defectivityÀÇ
   µ¶Æ¯ÇÑ ¹°¼ºÀ» °¡Áø´Ù.
   
 Á¦Ç°ÀÇ ÇüÅÂ
    - ¿ì¼öÇÑ Æòź¼º
    - ³·Àº defect ¹× Scratch
    - 300mm wafer °¡´É
    - ¿ì¼öÇÑ ¾ÈÀü¼º ¹× ÀçºÐ»ê¼º
    - ¼¼Á¤ÀÌ ¿ëÀÌÇÔ