|
|
|
 |
|
 |
| |
 |
CeO2
Slurry |
 |
Á¦Ç°ÀÇ °³¿ä ÈÇÐÀû
±â°èÀû ÆòÅºÈ °øÁ¤(CMP)À¸·Î ¹ÝµµÃ¼ÀÇ
ÃÖ±Ù Ãß¼¼ÀÎ 300mm wafer »ç¿ë ¹× ¹Ì¼¼
¼±Æø , ´ÙÃþ ¹è¼±ÀÇ Á¦Á¶¸¦ À§ÇØ µîÀåÇÑ ¹ÝµµÃ¼
Á¦Á¶±â¼úÀÌ´Ù. ±âÁ¸¿¡ »ç¿ëµÈ LOCOS´Â bird¡¯s
beakÀÇ Çö»óÀÌ ¹ß»ýÇÏ¿©, 0.25§ ÀÌÇÏÀÇ Design¿¡
Á¦ÇÑÀÌ ¹Þ°í ÀÖ´Ù, ±× ´ÜÁ¡À» º¸¿ÏÇÑ °øÁ¤À¸·Î
STI °øÁ¤ÀÌ »ç¿ëµÇ¾î Áö¸ç. ANPÀÇ CeO2
slurry ´Â high planarity , engineered
selectivity(high
or low) , Lower defectivityÀÇ
µ¶Æ¯ÇÑ ¹°¼ºÀ» °¡Áø´Ù. |
 |
|
| |
|
 |
Á¦Ç°ÀÇ ÇüÅ -
¿ì¼öÇÑ Æòź¼º - ³·Àº defect
¹× Scratch - 300mm
wafer °¡´É - ¿ì¼öÇÑ
¾ÈÀü¼º ¹× ÀçºÐ»ê¼º - ¼¼Á¤ÀÌ
¿ëÀÌÇÔ |
|
|
|
| |
|
|
|
|